Teaching Activities

General

• Edux
• KOS
• Projects

Timetables

• Timetables
• My timetable

Courses I Teach / Taught

• NI-KOP, 2021, 2020
• NIE-KOP, 2023, 2022, 2021
• NI-TSP, Grades
• NIE-TSP

• BI-SAP, Grades
• BIE-SAP, Grades
• PI-SCN, 2021, 2019, 2020
• NI-SCE
• MIE-PAA, 2019, 2018
• MIE-TSP, Moodle
• NI-TSP, Moodle - 2019
• MI-PAA, 2018
• MI-TSP, 2018

Konzultační hodiny

Nabízená témata bakalářských a diplomových prací (2024)

• Vyhodnocení efektivity SAT řešičů pro obvodový SAT (BP, DP)
• Určování míry podobnosti logických obvodů (BP, DP)
• Randomizace algoritmů v systému ABC (BP, DP)
• Dekompozice logických funkcí založená na binárních rozhodovacích diagramech (DP)
• Generování testu pro kombinační obvody s ohledem na implementaci standardními buňkami (DP)
• Komprese testu pro číslicové obvody s Illinois-Scan architekturou (DP)
• Implementace Packet-based komprese (BP, DP)
• Implementace algoritmů pro výpočet řiditelnosti a pozorovatelnosti (BP, DP)
• Paralelní optimalizace logických obvodů (DP)
• Reimplementace databáze publikací (DP)
• Vylepšení webové aplikace pro vizualizaci pokročilých iterativních metod (BP, DP)

Nabízená témata doktorských (Ph.D.) prací

• Komprese testu pro ASIC obvody (Test Compression for ASIC Circuits)
• Randomizované iterativní algoritmy v logické syntéze (Randomized Iterative Algorithms in Logic Synthesis)
• Zdokonalení řízení procesu logické syntézy a optimalizace (Improvements in the Logic Synthesis and Optimization Process Control)
• Aproximativní logická syntéza (Approximate logic synthesis)
• Testování aproximativních logických obvodů (Approximate Logic Circuits Testing)
• Použití umělé inteligence v logické styntéze (Artificial Intelligence in Logic Synthesis)

Detaily zde: Témata dizertačních prací

Bc. and MSc. Students

• Jan Kimr: Použití logické syntézy pro usnadnění řešení SAT problému
• Sabir Khanlarov: Improvement of the Random Access Scan Architecture Based Test Compression Algorithm

Defended Ph.D. Students

• Robert Hülle: Automatic Test Pattern Generation of Zero-Aliasing Test for General Output Response Compactor (2023)
• Jan Bělohoubek: Testability and Physical Security: The Cell-Level Approach (2022)
• Jiří Balcárek: Implicit Representations in the Testing and Dependability of Digital Circuits (2017)

Graduated Bc. and MSc. Students

Other

• Erasmus - mobility