Research Interests

• Diagnostics of logic circuits, testing
• ATPG (Automatic Test Pattern Generation)
• Test patterns compression
• Test patterns customization
• Implicit representations

Grants

• SGS11/089/OHK3/1T/18, "Výzkum využití implicitních reprezentací při generování testu a stanovování spolehlivosti digitálních obvodů", "Research on using of implicit representations in testing and dependability analysis of digital circuits", 2011 (Vedoucí řešitelského týmu)
• SGS10/118/OHK3/1T/18, "Návrh spolehlivých systémů na bázi programovatelných obvodů", "Design of Dependable Systems Based on Programmable Circuits", 2010 (člen týmu)