\begin{thebibliography}{10}
\providecommand{\biburl}[1]{\url{#1}}
\providecommand{\urlprefix}{Dostupn{\' e} z: }
\expandafter\ifx\csname urlstyle\endcsname\relax
  \providecommand{\doi}[1]{doi:\discretionary{}{}{}#1}\else
  \providecommand{\doi}{doi:\discretionary{}{}{}\begingroup
  \urlstyle{rm}\Url}\fi
\providecommand{\selectlanguage}[1]{\relax}
\providecommand{\eprint}[2][]{\biburl{#2}}

\bibitem{moskewicz2001chaff}
Moskewicz, M.~W.; Madigan, C.~F.; Zhao, Y.; aj.: Chaff: Engineering an
  efficient SAT solver. In \emph{Proceedings of the 38th annual Design
  Automation Conference}, ACM, 2001, s. 530--535.

\bibitem{balcarek}
Balcarek, J.; Fiser, P.; Schmidt, J.: PBO-based test compression.
  \emph{Proceedings - 2014 17th Euromicro Conference on Digital System Design,
  DSD 2014}, 10 2014: s. 679--682, \doi{10.1109/DSD.2014.86}.

\bibitem{ababei}
Ababei, C.: COEN-4730 Computer Architecture Lecture 12 Testing and Design for
  Testability (focus: processors).
\urlprefix\biburl{http://www.dejazzer.com/coen4730/doc/lecture13_testing.pdf}

\bibitem{mitsp01}
Fišer, P.: Testování a spolehlivost ZS 2017/2018, 1. přednáška - Úvod
  Terminologie, typy defektů, poruch.
\urlprefix\biburl{https://moodle-vyuka.cvut.cz}

\bibitem{mitsp02}
Fišer, P.: Testování a spolehlivost ZS 2017/2018, 2. přednáška -
  Testování kombinačních obvodů Intuitivní zcitlivění cesty,
  D-algoritmus.
\urlprefix\biburl{https://moodle-vyuka.cvut.cz}

\bibitem{minisatp}
Een, N.; Sörensson, N.: Translating Pseudo-Boolean Constraints into SAT.
  \emph{JSAT}, ro\v cn\'\i{}k~2, 03 2006: s. 1--26, \doi{10.3233/SAT190014}.

\bibitem{mitsp03}
Fišer, P.: Testování a spolehlivost ZS 2017/2018, 3. přednáška -
  Pokročilé algoritmy generování testu.
\urlprefix\biburl{https://moodle-vyuka.cvut.cz}

\bibitem{mitsp04}
Fišer, P.: Testování a spolehlivost ZS 2017/2018, 4. přednáška -
  Testování sekvenčních obvodů. Simulace poruch. Kompakce testu.
\urlprefix\biburl{https://moodle-vyuka.cvut.cz}

\bibitem{mitsp08}
Fišer, P.: Testování a spolehlivost ZS 2017/2018, 8. přednáška -
  Testování sekvenčních obvodů. Scan návrh.
\urlprefix\biburl{https://moodle-vyuka.cvut.cz}

\bibitem{mitsp11}
Fišer, P.: Testování a spolehlivost ZS 2017/2018, 11. přednáška -
  Komprese testu.
\urlprefix\biburl{https://moodle-vyuka.cvut.cz}

\bibitem{baikRAS}
Baik, D.; Saluja, K.; Kajihara, S.: Random access scan: A solution to test
  power, test data volume and test time. 02 2004, ISBN 0-7695-2072-3, s. 883--
  888, \doi{10.1109/ICVD.2004.1261042}.

\bibitem{minisat_paper}
E{\'e}n, N.; S{\"o}rensson, N.: An Extensible SAT-solver. In \emph{Theory and
  Applications of Satisfiability Testing}, editace E.~Giunchiglia;
  A.~Tacchella, Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2004, ISBN
  978-3-540-24605-3, s. 502--518.

\end{thebibliography}
