\chapter{Úvod}
% kontext zadani
% motivace

Jedním z typických rysů dnešní doby je stále rostoucí tempo rozvoje
elektroniky a elektronických zařízení obecně. Tento rozvoj se
projevuje především rychle se zvyšující mírou nasazení elektroniky
takřka ve všech oborech lidské činnosti a prudce rostoucí
komplexností používaných zařízení. S tím také souvisí rostoucí
potřeba efektivního způsobu testování, které by umožnilo včasné
rozpoznání porouchaných zařízení a ve svém konečném důsledku
i minimalizaci ekonomických dopadů a bezpečnostních rizik spojených
s výrobou a používáním takovýchto zařízení.

Obecně se používá testování během různých fází výrobního procesu
a nezřídkakdy i za samotného provozu finálního výrobku. K testování
se typicky využívá tzv.
\emph{vnějšího testovacího zařízení}
(angl. Automated Test Equipment, dále jen
\emph{ATE}),
jehož princip činnosti spočívá v
\emph{buzení testovaného zařízení}
předem stanoveným způsobem a v následném vyhodnocení takto získaných
\emph{odezev}.

V praxi se však ukazuje, že čím dál tím větší část nákladů
vynaložených na vývoj a výrobu spolkne samotné testování.
To je z velké části způsobeno tím, že trendy vývoje ATE do značné
míry kopírují trendy ve vývoji jimi testovaných zařízení, především
co do růstu výkonu a komplexnosti. Čím složitějsí jsou testovaná
zařízení, tím vyšší nároky jsou kladeny na ATE z hlediska rychlosti
komunikace s testovaným zařízením a doby vyhodnocování získaných
odezev. Vyšší složitost testovaných zařízení se také negativně
projevuje na obtížnosti sestavení testů samotných a jejich celkové
délce.

Částečné východisko z této situace nabízí přizpůsobení návrhu
zařízení potřebám testování. Tento přístup k návrhu se nazývá
\emph{návrh pro snadnou diagnostiku}
(angl. Design for Testability, dále jen
\emph{DFT})
a jeho cílem je zjednodušení sestavování testů a jejich následné
aplikace
\cite{HLAV98}.

Samotný přístup DFT se skládá z široké palety vzájemně se
doplňujících technik, se kterými volně souvisí jeden prvek návrhu
zařízení, který nás bude v dalším textu zajímat, a tím je tzv.
\emph{vestavěná diagnostika}
(angl. Built-in Self-test, dále jen
\emph{BIST}).

Tato technika ve zkratce spočívá v zabudování podstatné části
testovacího zařízení dovnitř obvodu navrhovaného zařízení. Těžištěm
tohoto textu pak bude prozkoumání možností návrhu jedné z částí
takto zabudovávaného testovacího zařízení, a to
\emph{generátoru stimulů}
pro buzení navrhovaného zařízení.

